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TOS3200泄漏電流測(cè)試儀工作原理及使用方法
日期：2012-10-17瀏覽：6559次
TOS3200泄漏電流測(cè)試儀工作原理及使用方法
泄漏電流測(cè)試儀工作原理
泄漏電流測(cè)試儀用于測(cè)量電器的工作電源（或其他電源）通過(guò)絕緣或分布參數(shù)阻抗產(chǎn)生的與工作無(wú)關(guān)的泄漏電流，其輸入阻抗模擬人體的阻抗。
泄漏電流測(cè)試儀用于測(cè)量電器的工作電源（或其他電源）通過(guò)絕緣或分布參數(shù)阻抗產(chǎn)生的與工作無(wú)關(guān)的泄漏電流，其輸入阻抗模擬人體的阻抗。
泄漏電流測(cè)試儀的操作方法
1、插上電源，接通電源開關(guān)，電源指示燈亮；
1、插上電源，接通電源開關(guān)，電源指示燈亮；
2、選擇電源量程，按下所需電流按鈕；
3、選擇泄漏電流報(bào)警值；
4、選擇測(cè)試時(shí)間；
5、將被測(cè)物接入測(cè)量端，啟動(dòng)儀器，將試驗(yàn)電壓升至被測(cè)物額定工作電壓的1.06倍（或1.1倍），切換相位轉(zhuǎn)換開關(guān)，分別讀取二次讀數(shù)，選取數(shù)值大的讀數(shù)泄漏電流值。當(dāng)轉(zhuǎn)換開關(guān)K與零線接通時(shí)，測(cè)試儀所采樣的是中線與外殼間的泄漏電流；當(dāng)K與相線接通時(shí)，測(cè)試的是相線與外殼間的泄漏電流。必須注意的是：K與零線接通或K與相線接通，泄漏電流不一定相同。這是因?yàn)榧矣秒娖鹘^緣弱點(diǎn)的位置是隨機(jī)的。因此，泄漏電流測(cè)試應(yīng)通過(guò)K轉(zhuǎn)換極性，取其中的較大值作為被測(cè)電熱器具的泄漏電流值。
泄漏電流測(cè)試儀的使用注意事項(xiàng)
1、在工作溫度下測(cè)量泄漏電流時(shí)，如果被測(cè)電器不是通過(guò)隔離供電，被測(cè)電器應(yīng)彩絕緣性能可靠的物質(zhì)絕緣墊與地絕緣。否則將有部分泄漏電流直接流經(jīng)地面而不經(jīng)過(guò)儀器，影響測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。
1、在工作溫度下測(cè)量泄漏電流時(shí)，如果被測(cè)電器不是通過(guò)隔離供電，被測(cè)電器應(yīng)彩絕緣性能可靠的物質(zhì)絕緣墊與地絕緣。否則將有部分泄漏電流直接流經(jīng)地面而不經(jīng)過(guò)儀器，影響測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。
2、泄漏電流測(cè)量是帶電進(jìn)行測(cè)量的，被測(cè)電器外殼是帶電的。因此，試驗(yàn)人員必須注意安全，各式各樣試驗(yàn)室應(yīng)制訂安全操作規(guī)程，在沒(méi)有切斷電流前，不得觸摸被測(cè)電器。
3、應(yīng)盡量減少環(huán)境對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)的影響，測(cè)試環(huán)境的溫度、濕度和絕緣表面的污染情況，對(duì)于泄漏電流有很大影響，溫度高、濕度大，絕緣表面嚴(yán)重污染，測(cè)定的泄漏電流值較大。
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測(cè)儀
- 國(guó)產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測(cè)試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測(cè)試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測(cè)試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(cè)試
- 電池/光伏/汽車充電樁測(cè)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測(cè)試
- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
- 吉時(shí)利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽(yáng)SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測(cè)試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 賽默飛Thermo X射線光譜儀
- 紅外熱像儀
- 哈希HACH/萬(wàn)通Metrohm
- 美國(guó)BK PRECISION
- ADCMT愛德萬(wàn)ADVANTEST
- 賽多利斯/奧豪斯OHAUS
- 艾卡IKA
- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 博勒飛Brookfield
- 物料輪廓顏色缺料視覺(jué)篩選
- 梅特勒METTLER
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計(jì)
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長(zhǎng)盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計(jì)量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國(guó)產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動(dòng)/聲學(xué)測(cè)試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測(cè)試設(shè)備
- 長(zhǎng)盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測(cè)試
- 永磁軟磁磁通量測(cè)試
- 汽車電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
- 安捷倫Agilent色譜質(zhì)譜GC
- 默克Merck密理博Millipore
- SHIMAZU島津
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